会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明公开
    • Oscilloscope trace attribute control system
    • Kontrollsystemfürdie Strahleigenschaften bei einem Oszilloskop。
    • EP0258956A2
    • 1988-03-09
    • EP87301380.9
    • 1987-02-18
    • TEKTRONIX, INC.
    • Rogers, Gregory S.Bennington-Davis, Timothy E.
    • G01R13/28G01R13/34
    • G01R13/28
    • In a multiple trace oscilloscope wherein separate traces displayed on a cathode ray tube screen are updated in succession, a random access memory is addressed by the count output of a programmable counter which increments its count each time the oscilloscope finishes updating one trace prior to updating a next trace. Data stored in the random access memory at the storage location addressed by the count is utilized to control attributes of the next trace to be updated by controlling the switching positions of attribute control switches which select the horizontal, vertical and intensity control signals controlling the appearance of each trace.
    • 在多迹线示波器中,连续更新显示在阴极射线管屏幕上的独立迹线,随机存取存储器被可编程计数器的计数输出寻址,每当示波器在更新一个轨迹之前完成更新一个轨迹 下一个痕迹 存储在由计数器寻址的存储位置处的随机存取存储器中的数据被用于通过控制属性控制开关的切换位置来控制要更新的下一个跟踪的属性,该属性控制开关选择控制外观的水平,垂直和强度控制信号 每个痕迹。